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第22回 2012 RCJ信頼性シンポジウムは
以下の要領で開催します。
発表論文募集を行っています。
奮ってのご応募をお願いします。
・日時：
平成24年10月30日(火)、31日(水)
・場所：
大田区産業プラザ（東京、蒲田）
当センターのシンポジウムは、
電子部品・電子デバイスの信頼性及び電子デバイス・電子機器の静電気現象とその対策に焦点を当てたシンポジウムです。
・2012
第22回 RCJ信頼性シンポジウム（EOS/ESD/EMCシンポジウム、電子デバイスの信頼性シンポジウム）の発表論文募集（pdf）
EOS/ESD/EMCシンポジウム
発表論文申し込み用紙（word）
電子デバイスの信頼性
発表論文申し込み用紙（word）
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＜参考＞
第21回 2011 RCJ信頼性シンポジウム
・2011
第21回 RCJ信頼性シンポジウム（EOS/ESD/EMCシンポジウム、電子デバイスの信頼性シンポジウム）プログラム（pdf）
＜トピックス＞
・Charvaka
Duvvury（TI）氏の特別講演
「white paper 3
part2 (システムレベルESD）」
・パネルディスカション
（「システムレベル（市場）ESD故障に対するユーザと
サプライヤとの協業に向けて」）
＜趣旨＞
最近のESD問題の関心事は、システムレベルでのESD対策です。部品レベルでESD耐性をいくら向上させても、ボード実装後のシステムレベルでESD故障が発生する場合があ
ります。その故障は、必ずしもESD耐性が低い部品に発生するとは限りません。部品レベルのESD故障機構とシステムレベルのESD故障機構が異なるためです。そのため、ESD耐性強化のために、部品供給側と使用側との協業が求められてい
ます。このような視点で、特別講演とパネルディスカッションを企画しました。
・信頼性セミナー
（”信頼性確保とばらつき問題”を中心とした
最近の話題）
・鈴木 和幸 教授（電気通信大学）の講演
（「信頼性と安全性の確保と未然防止」）
＜趣旨＞
現在CMOS
LSIの故障物理の分野でホットな話題は、“ばらつきと信頼性問題”とMOSデバイスの微細化により製品性能上の問題として顕在化してきた“ランダム・テレグラフ・シグナル（Random
Telegraph Signal（RTS））ノイズ”です。また、信頼性全体の問題としてファブレス環境での信頼性保証方法があります。RCJ故障物理委員会では、このような問題を取り上げ、調査研究を継続しています。本セミナーは、これらの調査活動成果を中心に報告するものです。
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＜参考＞
第20回 2010 RCJ信頼性シンポジウム
のご案内
第20回 2010 RCJ信頼性シンポジウム
プログラム（pdf）(update)
・日時： 平成22年10月21日（木）〜22日（金）
・場所： 大田区産業プラザ（東京、蒲田）
＜トピックス＞
・Charvaka
Duvvury（TI）氏の特別講演
「white paper 3
(システムレベルESD設計）」
・Ming-Dou
Ker（台湾義守大学副校長、IEEE
Fellow）氏の特別講演
「On-Chip Solution in CMOS Integrated
Circuits
for
System-Level ESD Protection」
・パネルディスカション
（システムレベル（市場）ESD現象に対する
品質向上策と問題点）
・信頼性セミナー
（"ばらつきと信頼性"を中心とした最近の話題）
＜参考＞
第19回 2009 RCJ信頼性シンポジウム
のご案内
シンポジウムプログラム(更新)
・電子デバイスの信頼性シンポジウム、
・EOS/ESD/EMCシンポジウム
＜トピックス＞
・Charvaka
Duvvury（TI）氏の特別講演
「A Perspective on
Realistic and Safe CDM Target Levels meet to
Advanced IC Design Constraints」
・パネルディスカション
（システム、モジュール、デバイス各レベルのESD現象と対策）
・信頼性セミナー
（信頼性の最近の話題（信頼性保証、RTS、NBTI））
・日時： 平成21年10月22日（木）〜23日（金）
・場所： 大田区産業プラザ（東京、蒲田）
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