<参考>
・第25回 2015 RCJ信頼性シンポジウム
プログラム
<2015年第25回シンポジウムのトピックス>
1. Charvaka Duvvury氏の講演
システムレベルESDの最近の状況。 特にEOS故障の理解と対策
2. ワークショップ
新しいRCJS-5-1の附属書(包装資材と移送の取り扱い及び抵抗測定方法)の解説と討論
3. 機能安全セミナー
機能安全規格の総括と展望及び電子部品故障率モデル比較
4. パワー半導体信頼性を中心とした
半導体故障物理セミナー
最近注目されている次世代パワー半導体信頼性を中心に、LSI信頼性をテーマとしてセミナー
<第24回 2014 RCJ信頼性シンポジウム
>
・第24回 2014
RCJ信頼性シンポジウムプログラム(2014-10-10)
第23回 2013 RCJ信頼性シンポジウム
・2013
第23回 RCJ信頼性シンポジウム(EOS/ESD/EMCシンポジウム、電子デバイスの信頼性シンポジウム)プログラム(pdf)
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